物理學(xué)家使用原子力顯微鏡(AFM)獲得極小物質(zhì)的“圖像”,。原子力顯微鏡在本質(zhì)上是一種微型機(jī)械探頭,探頭在樣本表面移動(dòng),,發(fā)射出的光束的移動(dòng)被記錄下來(lái),,并轉(zhuǎn)換為樣本表面的可見(jiàn)圖像(或剖析圖)。 通過(guò)把原子力顯微鏡與觸覺(jué)設(shè)備連接,,操作人員可以直觀地控制顯微鏡探頭的移動(dòng),。操作人員手部的動(dòng)作會(huì)被縮小數(shù)百萬(wàn)倍,并施加到探頭上,。光束可以對(duì)無(wú)窮小力作出反應(yīng),,光束的偏差會(huì)被放大數(shù)百萬(wàn)倍,然后反饋到操作人員的手部,。 這種觸覺(jué)納米操縱系統(tǒng)可以讓操作人員感應(yīng)到操作過(guò)程中樣本的實(shí)際運(yùn)動(dòng),。不同的操作模式適用于不同的應(yīng)用領(lǐng)域,例如:碳納米管采用接觸式納米操控,;硅顆粒采用非接觸式操控,。除了納米操控本身,觸覺(jué)納米操縱系統(tǒng)還可以記錄操控過(guò)程中的全部信號(hào),,便于對(duì)納米力學(xué)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行量化解析,。 >>相關(guān)產(chǎn)品 |